Разработка конструкции и технологии микроэлектронного варианта формирователя опорной частоты 10 МГц
, высота
.
Толщина диэлектрической подложки между рамкой и печатной платой
, выберем
, толщину п
ечатной платы
, высота паек
, толщина клеевой прослойки
на каждую сторону.
Толщину воздушного прослоя выбираем
, по 1.5мм на каждую сторону.
Получаем
Расчёт длины и ширины рамки производится по данным геометрических размеров и количества МСБ, размещённых на рамке. По размерам и числу МСБ, устанавливаемых на одной планке, находят размеры планок, к которым добавляют размеры других элементов рамки.
ФЯ содержит 3 планки МСБ расположены длинной стороной (60мм) поперек планки.
Ширина планки:
где
- длина МСБ.
Длина планки:
где
- число МСБ на планке;
-ширина подложки МСБ;
- расстояние между МСБ и горизонтальными ребрами жесткости рамки, примем
.
Получим
Типовые размеры основных элементов ФЯ: ширина внешних рёбер жесткости 3мм, продольных внешних и внутренних – 5мм, ширина окна для навесных элементов 10мм, ширина окна для пайки выводов МСБ – 5мм, ширина зоны внешних соединений – 5мм.
Определим размеры ФЯ:
Ширина ФЯ
Сборочный чертёж в приложении Р-402.468759.008 СБ.
Считаем массу:
где
- объем ФЯ,
- плотность материала ФЯ для алюминиевого сплава В95 (Л1, табл П 9.2). За счёт наличия окон и пустот, расчёт объёма ФЯ будет приблизительным.
Рассчитаем объём ФЯ путём складывания объёмов отдельных деталей конструкции ФЯ:
Общий вес ФЯ
2.3 Оценка вибропрочности ФЯ
Для оценки вибропрочности ФЯ выберем наихудшие условия транспортировки или эксплуатации. Проектируемое устройство может использоваться как в переносных так и стационарных системах, транспортировка осуществляется авиатранспортом.
Авиатранспорт имеет значения перегрузки в диапазоне 0.1…20 и частоту вибрации 5…2000Гц. Вес ячейки 0.4022Н.
Рамка ФЯ выполнена из алюминиевого сплава В95 с константами упругости
, коэффициент Пуассона
, толщина планок рамки 0.8мм.
Печатная плата крепится к рамке с помощью антивибрационного компаунда КТ-102 по всей поверхности прилегания. Материал платы – стеклотекстолит СФ-2Н-50-0,8, толщиной, соответственно, 0.8мм и
,
.
Влияние подложек на жесткость ФЯ несущественно, ими пренебрегаем.
Произведем оценку наиболее опасной при воздействии вибрации частоты механического резонанса ФЯ, путём выбора сечений с заведомо малым моментом инерции сечения.
Рассчитаем вибропрочность для поперечного сечения А-А, состоящего из элементарных прямоугольных фигур.
Зная цилиндрическую жесткость ФЯ:
, определим жесткость печатной платы:
Для оценки жесткости рамки
вычислим момент инерции сечения А-А. Для этого найдём моменты инерций сечений фрагментов:
![]()
Для определения момента инерции сечения А-А необходимо предварительно определить координату
центра тяжести сечения А-А и расстояния
между центром тяжести сечения А-А и центрами тяжести фрагментов 1, 2, 3.
Учитываем что фрагменты встречаются несколько раз.
![]()
Момент инерции сечения А-А:
Цилиндрическая жесткость рамки ФЯ
,
где
- определяющий линейный размер, длина сечения.
Получаем жесткость на изгиб
.
Для определения
найдем массу единицы площади ФЯ
Коэффициент закрепления ФЯ при
Частота механического резонанса
ФЯ будет равна
Другие рефераты на тему «Коммуникации, связь и радиоэлектроника»:
- Преобразование случайных сигналов в безынерционных нелинейных и инерционных линейных цепях
- Новые информационные системы и технологии
- Источники электропитания
- Перспективы развития информационно-телекоммуникационных систем
- Применение контроля информационных слов и их адресов по mod 3 в цифровых устройствах автоматики
Поиск рефератов
Последние рефераты раздела
- Микроконтроллер системы управления
- Разработка алгоритмического и программного обеспечения стандарта IEEE 1500 для тестирования гибкой автоматизированной системы в пакете кристаллов
- Разработка базы данных для информатизации деятельности предприятия малого бизнеса Delphi 7.0
- Разработка детектора высокочастотного излучения
- Разработка микропроцессорного устройства для проверки и диагностики двигателя внутреннего сгорания автомобиля
- Разработка микшерного пульта
- Математические основы теории систем
